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多功能掃描探針顯微鏡

簡要描述:多功能掃描探針顯微鏡HR-AFM是一款專業(yè)級的原子力顯微鏡,Z軸噪音低于35皮米。該設備可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區(qū)三維形貌和多相結構;同時可對樣品表面物理化學特性進行研究,數值測定與分析。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2023-11-23
  • 訪  問  量:1903

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詳細介紹
品牌其他品牌儀器種類原子力顯微鏡
價格區(qū)間面議產地類別進口
應用領域食品,化工,生物產業(yè),能源,制藥

HR-AFM多功能掃描探針顯微鏡是一款專業(yè)級的原子力顯微鏡,Z軸噪音低于35皮米。該設備可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區(qū)三維形貌和多相結構;同時可對樣品表面物理化學特性進行研究,數值測定與分析。

 

國內生產的HR-AFM原子力顯微鏡

標準工作模式:輕敲模式(Vibration mode),接觸模式 (Contact mode),相位成像模式 (Phase imaging),橫向力模式 (LFM),力曲線測試(Force Curve),納米操控 (Nanomanipulation),納米刻蝕 (Nanolithography),力矩陣模式 (Force Mapping),摩擦力測試 (Friction Mode)

可選工作模式:導電原子力顯微鏡 (C-AFM),磁力顯微鏡(MFM),靜電力顯微鏡(EFM),掃描電勢顯微鏡(SKPM)。

多功能掃描探針顯微鏡具有軟件自動進針功能。通過軟件控制Z方向馬達實現探針自動進針

X,Y,Z三軸分離的掃描器。

掃描范圍 100×100×17μm

Z軸分辨率0.035nm

樣品臺尺寸:25mm*25mm*18mm

操作軟件:使用Laview環(huán)境語言控制,免費提供操作軟件,并提供維護及升級

提供Gwyddion IMAGE ANALYSIS SOFTWARE 數據分析系統(tǒng)

頂視系統(tǒng)光學分辨率≤2微米

視場范圍從2mm*2mm到300um*300um可調,放大倍率從45倍到400倍機械可調

側視系統(tǒng),提供可視化下針,可以通過電腦精確觀察控制下針過程,防止撞針

 

 

 

 

 

 

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